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半導体デバイスの故障率と安全設計

半導体デバイスのカタログには、「半導体製品はある確率で故障が発生します」と”必ず”記載されており、聞いたところによるとその確率は数PPM以下らしい。(100万個に数個)   確かに、これまでには原因が特定されたロット不良などとは別に、受け入れ後に不具合が発生しメーカで調査しても結果的に原因が特定できなかった不良も実際に数件経験している。   以前にパワー... Continue Reading →