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SUS表面

SEM (Scanning Electron Microscope)

SEMとは、Scanning Electron Microscope(走査型電子顕微鏡)のこと。 10~100倍程度で観察する、理科室で使うような実体顕微鏡と違い、 1000倍、10000倍と、高倍率で試料を見ることができる顕微鏡です。 SEMは焦点深度(*)が大きく、像をはっきり立体的に観察できるのが特徴です。 *焦点深度とは、一定の解像力を維持できる光軸上の範囲のことで... Continue Reading →