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SUS表面

SEM (Scanning Electron Microscope)

SEMとは、Scanning Electron Microscope(走査型電子顕微鏡)のこと。 10~100倍程度で観察する、理科室で使うような実体顕微鏡と違い、 1000倍、10000倍と、高倍率で試料を見ることができる顕微鏡です。 SEMは焦点深度(*)が大きく、像をはっきり立体的に観察できるのが特徴です。   *焦点深度とは、一定の解像力を維持できる... Continue Reading →
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セラミックコンデンサの不良解析 3現主義にチャレンジ!

こんにちは。品質保証部のたまごです。   今日は、製品の不良解析について書こうと思います。   不良解析に一番重要なのは、3現主義! 3現主義とは…:現場、現物、現実のことです。 これは色々な解釈ができるとは思いますが、わたしは下のようなことを意識しています。   現場 →工場でどのように製品が作られているか、ちゃんと知... Continue Reading →