電子部品のライフテスト

SLC（単層キャパシタ）の信頼性試験のひとつに寿命試験があります。

寿命試験とは、基本的に電圧と温度を加えて電気的ストレスを与える試験です。

電圧と温度を加える目的は、デバイスの磨耗による信頼性不良の発生を早めることです。

ライフテストの結果から、製品の寿命を推定することができます。一般的には、新製品の開発の最後に行われることが多いです。ライフテストで製品の弱点と強点を発見し、改善を実施することで、製品の信頼性を向上させることができます。

SLC Class1 および Class2 は、以下に示す MIL-STD-202 の寿命試験要件に準拠しています：

(1) 試験温度と許容差 +125℃, +4℃/-0℃
(2) 動作条件
コンデンサは、定格電圧の200パーセントの電圧にさらされます。
(3) 試験条件：2,000時間
(4) 試験中及び試験終了後の測定方法
1,000時間後及び本試験終了後、コンデンサを＋125℃に保持した状態で、絶縁抵抗を測定します。

試験条件：2000Hrs を満たした後、コンデンサは以下の要件を満たすこと：

A. 目視検査：
機械的損傷がないこと。
B. 絶縁抵抗（+125℃の場合）：
絶縁抵抗（+125℃）：初期要求値の30％を下回ってはなりません。
C. 絶縁抵抗（+25℃の場合）：
初期要求値の30％を下回ってはなりません。
D. 静電容量の変化：
初期値から公称値の2.0%または0.5pFのいずれか大きい方の値以下の変化とすること。
E. 散逸係数：
コンデンサーの損失係数は、初期要求値を超えてはなりません。

Fig.1は、寿命試験におけるNGの顕著な例で、上記の2000Hrsの試験条件を満たしていません。

Fig.1

テクダイヤのSLCは既にMIL-STDのライフテストの要求値を満たしていますが、私たちはさらに信頼性の高い製品を開発し、グローバル市場で最も競争力のあるSLCメーカーになることを目指しています。