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粉末X線回折法(XRD)による物質の同定

試料粉末にX線をあて、その干渉現象から得られたピークを元に結晶構造を求め 物質の同定や配向性などを調べる分析方法です。 決まった結晶構造を持たない物質(非晶質)には向きません。 試料をセットして測定を開始すればPC画面に下図のような結果が表示されます。 横軸は角度(2θ)、縦軸は強度です。     X線回折装置には解析ソフトが付... Continue Reading →