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信頼性試験、故障解析、デバイス評価に役立つ書籍をご紹介

1. 電子部品の信頼性試験 越川清重(著) 日科技連出版社 <内容> ・信頼性試験の意義と考え方 (統計的試験、非破壊試験、環境試験、耐久試験、寿命試験、加速試験等) 環境試験については世界の地域別温湿度限界値と試験条件の一覧表と地図も載っています。 ・信頼性を阻害する故障現象 (熱拡散、クリープ、イオンマイグレーション、イオン汚染、振動と衝撃、静電気破壊現象等) イオン... Continue Reading →