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信頼性試験、故障解析、デバイス評価に役立つ書籍をご紹介

1. 電子部品の信頼性試験 越川清重(著) 日科技連出版社 <内容> ・信頼性試験の意義と考え方 (統計的試験、非破壊試験、環境試験、耐久試験、寿命試験、加速試験等) 環境試験については世界の地域別温湿度限界値と試験条件の一覧表と地図も載っています。 ・信頼性を阻害する故障現象 (熱拡散、クリープ、イオンマイグレーション、イオン汚染、振動と衝撃、静電気破壊現象等) イオン... Continue Reading →
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機械設計と材料のちょっとおもしろい話

まず、設計の第1段階で設計計画します。処理能力(製品の生産数/回or月等)、サイクルタイム(時間/回)、フットプリント(装置の床面積)を決めていきます。 以前に設計した装置で、初号機立ち上げ後のVer.Upモデルとして、ローダアンローダ付きの機械をリリースしたのですが、制御担当者と組立担当者の協力でサイクルタイムを改善し、リピート受注が半減したのは、うれしいような悲しいような思い出です。 ... Continue Reading →
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半導体製造工程に欠かせないプローブ針(プローブニードル)とは

プローブ針は、プローバ―装置に装着され、ウェハ上に集積されたチップひとつひとつに針をあてて電気を流し、良品選別する大切な工程に使用されます。一昔前までは、PCやテレビといった電子機器に使用されることが主であった半導体ですが、近年では、IoTや5G(第5世代移動通信システム)の実現により、走る半導体と言われるようになったクルマ、監視カメラ、スマートホームなどの新たなる産業規模の拡大にて、その設備投資... Continue Reading →
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プローブニードルメーカー9社まとめ

http://www.tecdia.com/jp/products/precision/needle/probe.php テクダイヤ株式会社のプローブニードルは卓越した精密機械加工技術により、お客さまの使用用途に合わせてカスタム製作が可能です。最低ロット20pcsから製作いたします。     《資料DLはこちら》 http://www.t... Continue Reading →
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半導体デバイスの故障率と安全設計

半導体デバイスのカタログには、「半導体製品はある確率で故障が発生します」と”必ず”記載されており、聞いたところによるとその確率は数PPM以下らしい。(100万個に数個)   確かに、これまでには原因が特定されたロット不良などとは別に、受け入れ後に不具合が発生しメーカで調査しても結果的に原因が特定できなかった不良も実際に数件経験している。   以前にパワー... Continue Reading →
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イエロールーム

  イエロールームとは、クリーンルーム内で感光性物質(光の照射によって化学変化を起こす物質)が扱われるフォトリソグラフィ工程のために紫外線をカットしたエリアを言います。フォトリソグラフィとは写真現像の仕組みを応用し、パターンを製作する技術です。写真の現像は、フィルムと、感光紙と呼ばれる光によって変色する紙を重ね、光を当て化学反応を起こしますが、フォトリソグラフィでは、紫外線... Continue Reading →