書籍 – テクダイヤ技術向上ブログ

1. 電子部品の信頼性試験 越川清重（著） 日科技連出版社 ＜内容＞ ・信頼性試験の意義と考え方 （統計的試験、非破壊試験、環境試験、耐久試験、寿命試験、加速試験等） 環境試験については世界の地域別温湿度限界値と試験条件の一覧表と地図も載っています。 ・信頼性を阻害する故障現象 （熱拡散、クリープ、イオンマイグレーション、イオン汚染、振動と衝撃、静電気破壊現象等） イオンマイグレーションについては起こす金属と起こす条件の表なども載っています。 ・市場故障における故障の発生機構とその対策 複合環境試験の一覧表もついています。 ・故障現象に基づいた信頼性試験方法 各種コンデンサや金属材料等の「部品・材料・現象」とn乗側、k度側、アレニウスモデル等の モデルとの対応一覧表、市場故障データと試験データとの対応の求め方一覧、 主要部品の重要故障現象一覧表も載っています。 いきなり古い本からのご紹介ですが、日科技連の本だけあって良書です。 理論の説明と代表例だけ述べるのではなく、実例の一覧表があるのが良いところです。 また、付録として半導体デバイスの静電気破壊現象の確認方法やプレッシャークッカー試験(PCT)に ついても記述があります。 2. 信頼性110番シリーズ デバイス・部品の信頼性試験 高久 清/山本 繁晴/柴田 義文/佐伯 輝憲/岩間 英雄（著） 日科技連出版社 ＜内容＞ ・信頼性試験の概要（信頼性試験の体系、キーポイント、関連規格等） ・信頼性試験の計画立て方（試験期間やパラメータの選び方、サンプルの工夫等） ・試験条件と実施上の注意 （温度測定の注意点、結露、熱衝撃試験と温度サイクル試験の違い、PCTの飽和と不飽和の違い等） ・加速試験とスクリーニング試験 （各種加速試験のモデル、条件の設定方法、スクリーニングの条件と期待される効果等） ・信頼性試験結果の解析 （劣化の解析方法、故障ゼロの場合、アレニウス則の活性化エネルギーの求め方、耐湿試験の加速性、べき乗側の係数の求め方等） こちらも日科技連の本です。 こちらは上の本とは異なり、一応章立てしてありますが、一問一答形式で書かれており、 見出しから知りたいことだけすぐ見れる良さがあります。 3. 故障物理入門 - 保証科学の解析的アプローチ 塩見弘（著） 日科技連出版社 ＜内容＞ ・故障物理の説明、基礎概念 ・物性科学と故障 ・故障物理のモデル（ストレス強度モデル、反応論モデル、故障率モデル、再弱リンクモデル等） ・信頼性物理の技術 ・加速寿命試験とスクリーニング（加速性、加速係数、寿命加速とスクリーニングの例等） ・信頼性物理の応用（装置、システムの故障予測、環境適用係数 Kファクター等） 1の本より故障の理論とモデルに注力した1冊です。

信頼性試験、故障解析、デバイス評価に役立つ書籍をご紹介