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信頼性試験、故障解析、デバイス評価に役立つ書籍をご紹介

1. 電子部品の信頼性試験 越川清重(著) 日科技連出版社 <内容> ・信頼性試験の意義と考え方 (統計的試験、非破壊試験、環境試験、耐久試験、寿命試験、加速試験等) 環境試験については世界の地域別温湿度限界値と試験条件の一覧表と地図も載っています。 ・信頼性を阻害する故障現象 (熱拡散、クリープ、イオンマイグレーション、イオン汚染、振動と衝撃、静電気破壊現象等) イオン... Continue Reading →
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大学でやったことが役に立つ!?故障解析と高分子分析の似ている所

こんにちは、品質保証部のたまごです。 今日は、大学でやっていたことと、今やっていることが似ているなーと思ったことを書いてみたいと思います。   私は大学で高分子合成研究室という研究室におりました。 高分子というのは、「ポリ」がつくもののことです。 ポリとは何か? みなさん、PETボトルはご存知かと思いますが、このPETのことです。 PETとは、“... Continue Reading →
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現地エンジニアとDMAICという思考を用いた不良改善活動

  フィリピン工場で、光デバイスエンジニアとして働いていますが、生産工場では、良品率アップや作業者の習熟度による品質の不安定さを無くす事を大前提として改善をしていかなければいけません。しかし、いざ問題の中に入り込むと、思った以上の情報量と 多くの改善案で方向性が見えなくなっている状況。手当たり次第に改善案を実行するのは時間の浪費。たとえば、問題はわかっているものの、誰が・何を... Continue Reading →